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简要描述：近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。
产品型号：TPY-1型厂商性质：生产厂家更新日期：2024-12-18访 问 量：3119产品分类
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| 品牌 | TP/拓普 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 综合 |
产品特点：
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点；
光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高；
仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。
规格与主要技术指标：
测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm；
折射率范围：1-10
测量zui小示值：≤1nm
入射光波长：632.8nm
光学中心高：80mm
允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05°
测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±1nm和±0.01
入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05°
主机重量：25kg
成套性：主机、电控系统、计算软件
外形尺寸：680*390*320mm
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